하전입자장비연구유닛
하전입자 (전자/이온) 기반 기술을 활용하여 유·무기 소재 및 생체시료의 고정밀·저손상·다중모달 복합이미징 플랫폼 기술 연구개발
연구인프라
연구인력
| 성명 | 역할 |
|---|---|
| 한철수(유닛장) |
|
| 김진규 |
|
| 정종만 |
|
주요 업무
- 국내 최초개발성과의 사업화 : 국내최초 투과전자현미경의 상용모델 출시 지원
- 국내 최초로 개발한 KBSI 저전압 투과전자현미경 시스템 기술을 이전받은 수요기업에 안정적으로 기술 전수 및 지원
- 신개념 복합이미징 플랫폼 연구 : 유·무기 소재 및 생체시료의 실시간 고정밀·저손상·다중모달 복합이미징 플랫폼 기술 연구개발
- 하전입자(전자/이온)를 이용한 복합 이미징 구현 장비 개발 및 자동화
- AI 기반 디지털 트윈 이미지 융합 및 자동해석 기술 연구개발
- 애로기술 지원 : 하전입자 기반 이미징 기술의 기술 지원
- 이미징 관련 국내 연구장비 전문기업에 애로기술 발굴 및 해법 기술지원
- 패밀리기업(㈜엠크래프츠, ㈜코셈, ㈜쎄크, ㈜솔루아이, ㈜세미안, 선테크)에서 발생하는 기술적 애로사항 발굴 및 맞춤형 기술지원 수행
하전입자장비 연구개발 플랫폼
대표 연구성과
투과전자현미경 국산화 개발
투과전자현미경 시스템
투과전자현미경 이미징
대표 연구성과
| 구분 | 내용 |
|---|---|
| 기술이전 | 저전압 투과전자현미경 시스템, 2025 |
| 기술이전 | 전자빔 방출분석 장치 및 기술, 2024 |
| 논문 | SEMOS: a scanning electron microscope optical simulator for instrumental performance
optimization
J. Anal. Sci. Technol. (2025.12), IF=2.8, JCR 상위 50% |
| 논문 | Effective investigation of murine femoral bone development utilizing correlative light
and electron microscopy (CLEM)
J. Anal. Sci. Technol. (2023.09), IF=2.8, JCR 상위 50% |
| 논문 | Abnormal shadow contrast imaging for optimal objective lens condition in transmission
electron microscope
J. Anal. Sci. Technol. (2022.05), IF=2.8, JCR 상위 50% |
| 특허 | 투과전자현미경 시스템 대한민국, 등록번호: 10-2682399, 등록일자: 24.07.02 |
| 특허 | 전자빔 방출 특성 분석을 위한 전자현미경 장치 및 방법 대한민국, 등록번호: 10-2826562, 등록일자: 25.06.24 |
| 프로그램 | 전자빔 래스터 이미징 분석 소프트웨어 대한민국, 등록번호: C-2025-016283, 등록일자: 25.04.30 |
담당부서
하전입자장비연구유닛