컨텐츠 바로가기 영역
본문으로 바로가기
주메뉴로 바로가기

공지사항

Home 알림마당 공지사항

공지사항 < 알림마당

상단 타이틀 영역입니다.
Spectroscopic Ellipsometer 분석지원 시작
facebook   twitter  
이름 : 최고관리자 | 작성일 : 2003.10.02 12:35 | 조회수 : 36503
컨텐츠 영역입니다.
저희 전주분소에서는 2003년 10월 1일부터 Spectroscopic Ellipsometer의 분석지원업무를 시작합니다. Spectroscopic Ellipsometer의 규격 및 용도는 아래와 같으며, 관심있는 분들의 많은 이용을 바랍니다. ■ 주요구성 및 성능  1. Light source : Single-Ended Quartz Halogen   (1) Operating voltage : 12 V   (2) Consuming power : 10 W 이내   (3) Measuring beam spot size : 2 x 2 mm   (4) Wavelength range : 350 nm ∼ 850 nm  2. Ellipsometer configuration type : PSCRA system(Rotating compensator type)  3. Detector type: CCD array multi-channel detector   (1) 1024 channels   (2) Measurement speed : ~5 s/spectrum ■ 응용분야 및 용도  -  박막연구에 필수적인 장비이기에 박막소재를 활용 또는 연구 제작하는 모든 분야 (화학, 물리,   신소재, 반도체, 화공, 금속, 지질, 재료, 고분자 등)에서 활용이 가능한 장비이다.   ·Thickness of thin film   ·Refractive index   ·Multiple layer thickness   ·Surface contamination   ·Constituent and void fractions   ·Surface and interfacial roughness   ·Alloy ratios ▣ 문의 : 063-270-3976 (이해성 박사)
share
프린트 돌아가기
 

공지사항 목록 : 번호, 파일, 제목, 이름, 작성일, 조회수
번호 파일 제목 이름 작성일 조회수
197 blank 최고관리자 2006.07.04 32,178
196 blank 최고관리자 2006.06.27 33,578
195 blank 최고관리자 2006.06.23 35,644
194 blank 최고관리자 2006.06.21 33,564
193 blank 최고관리자 2006.06.19 31,878
192 blank 최고관리자 2006.06.14 34,437
191 blank 최고관리자 2006.06.09 33,357
190 blank 최고관리자 2006.06.07 36,578
189 blank 최고관리자 2006.06.05 35,415
188 blank 최고관리자 2006.05.30 33,310
187 blank 최고관리자 2006.05.29 36,314
186 blank 최고관리자 2006.05.25 36,914
185 blank 최고관리자 2006.05.22 33,413
184 blank 최고관리자 2006.05.17 34,625
183 blank 최고관리자 2006.05.12 33,997
182 blank 최고관리자 2006.05.10 35,425
181 blank 최고관리자 2006.05.02 35,551
180 blank 최고관리자 2006.04.26 34,268
179 blank 최고관리자 2006.04.18 33,499
178 blank 최고관리자 2006.04.13 37,775