성과정보

논문

지식재산권
논문명 (국문)
논문명 (영문) ToF-SIMS of OLED materials using argon gas cluster ion Beam: A promising approach for OLED inspection
제1저자 최창민,백지영
SCI여부 SCI 권/호 507권0호
IF 5.155 페이지 144887-144887
발표국가 네덜란드 발표년도 2020
발표일자 2020-03-30
내부저자 최창민,최명철,진종성,이상주,민부기,성지영,백지영
활용장비 15 T FT-ICR 초고분해능 질량분석장치(ICR02)매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 비행시간 질량분석 시스템(MD101)비행시간차이차이온질량분석기(PH412)
DOI 10.1016/j.apsusc.2019.144887