성과정보

논문

지식재산권
논문명 (국문)
논문명 (영문) Microstructural characterization of cold-drawn Cu-Ni-Si alloy having high strength and high conductivity
제1저자 김황선
SCI여부 SCI 권/호 832권0호
IF 4.175 페이지 1-8
발표국가 스위스 발표년도 2020
발표일자 2020-08-15
내부저자 백현석
활용장비 모노&이중수차보정 투과전자현미경(SE103)
DOI 10.1016/j.jallcom.2020.155059