구 분

원 서 접 수 기 간

시험장소

시행지역

시 험 일 자

합격자발표

제1차

필기시험

2015.11. 9(월) 09:00~ 2015.11.13(금) 18:00

홈페이지 게재

(2015.11.30.)

대 전

2015.12.19(토)

2016.1.15(금)

제2차

구술시험

2016.2. 15(월) 09:00~ 2016.2. 19(금) 18:00

2016.3.12.(토)~2016.3.26.(토)

2016.4.15(금)

검정분야

검정과목

검정방법

현미경

분석

(4과목)

주사 전자현미경(SEM)

1차 필기시험

형태 : 객관식(4지선다형)

문항수 : 80문항

시험시간 : 120분

2차 구술시험

형태 : 심층면접

시험시간 : 1개 분야당 60분

투과 전자현미경(TEM)

주사 탐침현미경(SPM)

공초점 레이저현미경(CLSM)

분리

분석

(5과목)

액체 크로마토그래프(LC)

기체 크로마토그래프(GC)

이온 크로마토그래프(IC)

액체 크로마토그래프 질량 분석기(LC/MS)

기체 크로마토그래프 질량 분석기(GC/MS)

분광

분석

(5과목)

자외선·가시광선 분광 광도계(UV/Vis)

푸리에변환 적외선 분광기(FT-IR)

핵자기 공명 분광기(NMR)

원자흡수광도계(AAS)

유도결합 플라즈마 질량 분석기(ICP/MS)

엑스선

분석

(3과목)

엑스선 형광 분석기(XRF)

엑스선 광전자 분광기(XPS)

엑스선 회절 분석기(XRD)

물성

분석

(3과목)

열 분석기(TA)

입도 분석기(PSA)

원소 분석기(EA)