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TEM 수가적용 체계 변경안내
이름 : 최고관리자 | 작성일 : 2007.01.31 15:48 | 조회수 : 36782
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** 투과전자현미경 이용 수가 적용체계 변동 안내 ** 평소, 한국기초과학지원연구원 광주센터 투과전자현미경을 이용해 주셔서 감사드립니다. 기존에 부과되었던 투과전자현미경 이용수가에 대하여 명확히 명시 할 부분이 있어서 알려드립니다. 지금까지 수가표에 명시된 image 및 특수분석에 대한 수가를 별도로 청구하지 않았으나, 장비유지보수 및 타 센터와의 형평성 등을 고려하여 아래와 같이 청구하게 되었으니 양지하여 주시고, 앞으로도 많은 이용 부탁드립니다. 2007년 1월 31일 -------------------- 아 래 -------------------- 1. 변동수가 적용일: 2007. 02. 15부터 2. 변동내역 1) 기본분석: 기존 수가 2) image요금 - 1500원/장 3) 특수분석요금 * 고분해능 관찰(10만배-70만배): 30,000원/건 추가 * 고분해능 관찰(70만배 이상): 50,000/건 추가 * 전자선 회절패턴 관찰: 30,000/건 추가 * Nano Diffraction Pattern: 50,000/건 추가 * Nano-beam EDX: 50,000/건 추가 * 이외의 특수분석: 별도산정 한국기초과학지원연구원 광주센터 센터장(직인생략)
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