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에너지여과 투과전자현미경(EF-TEM) 분석지원업무 실시
이름 : 최고관리자 | 작성일 : 2004.04.20 09:17 | 조회수 : 36535
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춘천분소에서는 지난 2004년 3월 15일부터 에너지여과 투과전자현미경(Energy Filtering - Transmission Electron Microscope : EF-TEM)의 분석지원업무를 시작하였습니다. 이번에 지원업무가 시작된 에너지여과 투과전자현미경은 새로운 개념의 전자현미경으로 기존의 투과전자 현미경이 가진 한계점을 극복해 보려는 노력이 결집되어 있는 최신 기기입니다. 가속 입사된 전자가 얇은 시편을 투과할 때 초래되는 전자 에너지 손실의 정도는 시료의 구조와 화학조성에 따라 달라지는데, 기존의 투과 전자현미경에서는 이렇게 손실된 에너지를 가진 전자가 영상을 형성하는데 배경강도(background intensity)로 작용하여 전체의 명암대비를 약화시킬 뿐, 달리 이용되지는 못하였다. 그러나 EF-TEM은 Column에 OMEGA형 배열의 Spectrometer를 추가하여 이러한 손실된 에너지를 가진 전자를 먼저 분산시킨 다음, slit을 이용하여 적절한 에너지 손실 대를 선택하여 영상을 형성시킴으로써 전체의 명암대비를 크게 증가시킬 뿐만 아니라, 시료의 화학적 특성의 분석 (Electron Energy Loss Spectrometry : EELS)과 화학적 정보를 담은 다양한 영상의 획득 (Electron Spectroscopic Imaging : ESI)을 가능하게 한다. 이밖에도 광학현미경에서 전통적으로 이용되는 Koehler Illumination System을 EF-TEM에 도입하였기 때문에 완전히 평행한 전자빔을 시편에 조사시킬 수 있어 전 영역에 걸쳐 왜곡이 없는 영상을 손쉽게 얻을 수 있게 하였다. 한편, 자동제어장치의 도입으로 전자현미경의 관찰 조건들을 정량적으로 제어하거나 기록할 수 있고, 에너지필터로 영상 처리된 모든 Image는 형광판에서 real image로 관찰되며, 또한 부착된 Slow-Scan CCD를 이용하여 시료의 영상 정보를 정량적으로 기록할 수 있기 때문에, 전자현미경을 이용한 연구를 하는데 탁월한 기기입니다. 기기이용 및 접수에 관한 자세한 사항은 아래로 문의하여 주시기 바랍니다. 담당연구원 : 손 경 덕 e-mail : skt77@kbsi.re.kr 전화번호 : 033-250-7276
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